Dal 7 al 9 giugno 2022, si terrà a Trento lo “IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT”
Il congresso rappresenta un evento internazionale di rilievo per il mondo della ricerca coinvolto nell'ambito della Metrologia per l'Industria 4.0 e l'Internet of Things (IoT).
Istituti nazionali, internazionali e il mondo accademico si riuniranno per proporre approcci congiunti da parte di esperti (ingegneri e professionisti) di strumenti di misura e test industriali, e di esperti (accademici) di metrologia dell'innovazione.
Il programma di questa quinta edizione è pensato per stimolare l’interesse di un ampio gruppo di ricercatori, operatori e decision-makers nell'ambito delle nuove tecnologie per la produzione assistita, dalla metrologia nell'Industria 4.0 e IoT, alla misura di componenti industriali di nuova generazione, ai sensori e ai metodi di taratura per l'Industria 4.0 e IoT.
- Industrial sensors;
- Virtual sensors, sensor interfacing;
- IoT enabled sensors and measurement systems;
- Measurement applications based on IoT;
- Industrial IoT and Factory of Things;
- Wireless sensor networks and IoT;
- Wearables and Body Sensor Networks;
- Sensors Data Management;
- Localization Technologies.
All’interno del convegno saranno organizzate numerose Special Sessions con lo scopo principale di creare mini-workshops su argomenti specifici, dove i ricercatori che lavorano sullo stesso argomento potranno interagire e stringere collaborazioni.
Tra queste si segnalano due sessioni, organizzate in collaborazione con alcuni colleghi dell’INRiM.
- SPECIAL SESSION #9
Large Scale Traceability Of Low-Cost Sensor Networks: Statistical Methods And In-Line Calibration Systems (https://www.metroind40iot.org/special-session-9).
L’obiettivo della Special Session è quello di presentare metodi di taratura su larga scala per sensori analogici e digitali a basso costo, basati su approcci statistici, metodi di campionamento o attraverso sistemi di taratura sulla linea di produzione. - SPECIAL SESSION #10
Metrological Characterization And Traceability Of Digital Mems Sensors And Sensor Network: Statistical Methods And Technical Procedures (https://www.metroind40iot.org/special-session-10)
L’obiettivo della Special Session è quello di illustrare metodi per la caratterizzazione metrologica di sensori MEMS digitali, per il trattamento metrologico di reti di sensori nel suo insieme, l’autotaratura remota, la fusione di dati nei sistemi di rete e la gestione complessiva del budget di incertezza.
Gli articoli accettati saranno inclusi in IEEE Xplore.
Per partecipare all’International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT si segnalano le seguenti date:
- 23 gennaio 2022 termine ultimo per l'invio degli abstract estesi (3-4 pagine)
- 30 aprile 2022 termine ultimo per l'invio del paper (5-6 pagine)
Per ulteriori informazioni si invita a contattare:
- Andrea Prato: a.prato@inrim.it
- Francesca Romana Pennecchi: f.pennecchi@inrim.it
- Alessandro Schiavi: a.schiavi@inrim.it
