Analisi di materiali eterogenei con spettrometria di massa (SIMS), tomografia a sonda atomica (APT) e spettroscopia X.
L'obiettivo del progetto è soddisfare le esigenze attuali e future di metrologia tridimensionale (3D) alla nanoscala con incertezze di misura inferiori a 1 nm.
Advanced Aerosol Metrology for Atmospheric Science and Air Quality
Magnetoelectrics Beyond 2020: A Training Programme on Energy-Efficient Magnetoelectric Nanomaterials for Advanced Information and Healthcare Technologies
ChipS·CALe - Self-calibrating photodiodes for the radiometric linkage to fundamental constants
Increasing the comparability of extreme air temperature measurements for meteorology and climate studies
Two dimensional lattices of covalent- and metal-organic frameworks for the Quantum Hall resistance standard