Il progetto fornisce una nuova metrologia per la produzione “altamente parallela”, per consentire ai produttori europei di controllare la qualità dei dispositivi di uso quotidiano di domani.

L'obiettivo del progetto è soddisfare le esigenze attuali e future di metrologia tridimensionale (3D) alla nanoscala con incertezze di misura inferiori a 1 nm.